SN74LVTH182502APM
Descrizione:
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
Categoria:
Chip a circuito integrato
Specifiche
Tipo di logica::
Dispositivo di prova di scansione ABT con ricevitori di bus universali
Categoria di prodotto::
Amplificatori & linea driver
Stoccaggio::
9920
Confezione del fornitore::
64-LQFP (10x10)
Confezione / Valigia::
64-LQFP
Status della parte::
Attivo
Imballaggio::
Scaffale
@ qty::
0
Temperatura di funzionamento::
-40°C ~ 85°C
Quantità minima::
1
Numero di bit::
18
Serie::
74VIV
Tipo di montaggio::
Montaggio superficiale
Tensione di rifornimento::
2,7 V ~ 3,6 V
Produttore::
Texas Instruments
Introduzione
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